Компания National Instruments (США), ведущий мировой производитель встраиваемых измерительных систем, представляет источник-измеритель электропитания (SMU) - модель NI PXIe-4135 с чувствительностью измерений в 10 фА и выходом по напряжению до 200 В.
Измерительный источник питания NI PXIe-4135 предназначен для точных измерений параметров электрических сигналов с малыми и сверхмалыми значениями по силе тока. Этот модуль позволяет наиболее полно воспользоваться преимуществами измерительной системы с высокой плотностью каналов, обеспечивает высокую скорость тестирования и широкие возможности применения измерительных источников питания марки "NI" для таких приложений, как параметрические тесты на кремниевой пластине, в исследованиях материалов, в характеризации датчиков и микросхем, работающих с малыми токами.
“Многие параметрические тесты прямо на производственной линии требуют постоянного сбора миллионов значений данных, часто с токами утечки в пикоамперном диапазоне” – говорит доктор Барт Де Вахтер, исследователь в IMEC.
– “Источник-измеритель от компании NI - модель NI PXIe-4135 позволяет максимально точно измерять значения этих низкоамперных сигналов, при этом обеспечивает увеличение скорости измерений и гибкость в построении конкретных измерительных систем благодаря формату устройства PXIe и платформе автоматизации измерений - LabVIEW.”
Инженеры используют модульные источники - измерители серии NI PXI SMU для построения многоканальных измерительных систем параллельного действия в компактном форм-факторе, обеспечивающих сбор информации одновременно по 68-ми измерительным каналам с помощью всего одного компактного шасси PXI, с возможностью расширения всей системы до сотен каналов, для проведения параллельных тестов на пластине.
Кроме того, использование источников - измерителей серии NI PXI SMU позволяет значительно увеличивать производительность процесса тестирования при использовании преимуществ скоростных шин обмена данных, детерминированного аппаратного управления последовательностью операций и технологий цифрового управления импедансом для подстройки отклика измерительного прибора под любое тестируемое устройство.
Пользователи могут программно управлять откликом источника-измерителя серии NI SMU, снимая необходимость долгого ожидания установления переходных процессов в самом приборе и минимизируя паразитные выбросы и колебания параметров даже в случае нагрузок с высокой емкостью.
“Возрастающая сложность полупроводниковых приборов заставляет производителей измерительного оборудования пересмотреть традиционный подход к исследованиям, характеризации и измерениям надежности. Это является ключевым мотивом расширения инвестиций в перспективные модули SMU в формате PXI,” – говорит Люк Шрайер, директор по системам автоматического тестирования компании NI.
– “Приборы серии NI SMU сокращают время тестирования, увеличивают число и плотность измерительных каналов, а теперь предлагают еще большую точность измерений с чувствительностью по току до 10 фА.”
С простотой использования, привычной для традиционных источников-измерителей, программные лицевые панели серии NI PXI SMU позволяют производить базовые измерения и отлаживать автоматизированные приложения.
Программный драйвер управления этими источниками-измерителями также содержит файлы справки, документацию и готовые примеры программ для помощи в разработке программ тестирования. Кроме того, драйвер включает API для различных сред разработки, включая C, Microsoft .NET, LabVIEW.
Инженеры могут также использовать модули NI SMU с средой управления тестами NI TestStand, упрощая создание и внедрение систем тестирования в лаборатории или на производственной линии.