Закрыть
Регистрация
Закрыть
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Регистрация

Новый модуль и специальное ПО от NI расширяют возможности по тестерованию цифровых микросхем

Новости

Новый модуль и специальное ПО от NI расширяют возможности по тестерованию цифровых микросхем 05.09.2016
Одноклассники Facebook LJ Twitter В Контакте

Компания National Instruments представляет новинки продукции - устройство NI PXIe-6570 Digital Pattern Instrument - встраиваемый модуль для работы с векторными цифровыми последовательностями  и редактор векторных последовательностей NI Digital Pattern Editor

Эти продукты освобождают производителей радиочастотных интегральных схем (RFIC), интегральных схем управления питанием, микроэлектромеханических систем (MEMS) и цифро-аналоговых интегральных схем от закрытых архитектур традиционных тестеров микросхем. 

Требования,  предъявляемые  к функционалу современных изделий в области  электронно-компонентной базы,  часто опережают имеющиеся измерительные возможности в области тестирования параметров работоспособности новых устройств,  предлагаемые традиционными решениями. 

Новый модуль работы с цифровыми последовательностями  - NI PXIe-6570 Digital Pattern Instrument успешно привносит  в открытую платформу PXI (перспективный современный стандарт для создания встраиваемых измерительных систем), применяемую в автоматизированных измерительных системах тестирования полупроводников NI Semiconductor Test System (NI STS),  парадигму (совокупность общепринятых фундаментальных научных установок, представлений и терминов)  из области тестирования цифровых микросхем.

А использование данного устройства вместе с мощным и простым в использовании редактором  векторных цифровых последовательностей  NI Digital Pattern Editor и имеющимися отладчиками,  обеспечит пользователя всеми  преимуществами современного PXI приборостроения, помогая снизить стоимость цикла тестирования  и увеличить производительность испытаний радиочастотных, аналоговых и цифро-аналоговых интегральных схем. 

"Прибор  NI PXIe-6570, предназначенный для работы с векторными цифровыми последовательностями , – важное дополнение к встраиваемым автоматизированным системам тестирования полупроводников, т.к. он предоставляет инженерам микроэлектроники все необходимые возможности, которые они ранее могли ожидать только от тестеров цифровых микросхем самого высокого уровня," – говорит Рон Вульф, вице-президент  компании NI по тестированию полупроводниковых приборов.

 – " Широкие возможности использования цифровых последовательностей в измерительных комплексах, созданных на базе  платформы PXI на производстве,  позволят системам контроля  удовлетворять требованиям минимизации стоимости процесса тестирования,  предъявляемым к самым современным устройствам,  при этом легко адаптируясь и к другим измерительным задачам" 

Прибор для работы с векторными цифровыми последовательностями NI PXIe-6570 предоставляет требуемые возможности для тестирования микросхем, часто встречающихся в беспроводных устройствах и изделиях Internet of Things, при экономной цене. 

Он предлагает:
  •  скорости формирования цифровых последовательностей со значениями до 100 миллионов векторов в секунду с независимым тактированием генерации и анализа,  
  • расширенные функции параметризации напряжений и токов для 256 синхронизируемых цифровых контактов в подсистеме.
Пользователи обеспечены  преимуществами открытости  платформы PXI и системы тестирования NI STS и могут без проблем добавить еще некоторое количество таких же устройств, если конфигурация всей системы тестирования потребует увеличить количество контактов или тестовых станций. 

Новый редактор векторных цифровых последовательностей NI Digital Pattern Editor объединяет средства редактирования карт назначения каналов, технических требований и шаблонов, что позволяет быстрее разрабатывать планы тестирования. В него встроены специальные возможности, такие как формирование векторов для нескольких приборов или нескольких тестовых станций, и безболезненный переход от измерений в процессе разработки к тестированию на производственной линии. 

Такие возможности редактора, как графическое отображение и интерактивный просмотр карты контактов, позволяют эффективно отлаживать и оптимизировать тесты. Верификация и тестирование на производственной линии в рамках единой аппаратной платформы PXI,

Количество показов: 218
Предоставлено:  National Instruments

Возврат к списку

ON-LINE версия