Закрыть
Регистрация
Закрыть
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Регистрация

На выставке в Москве 27-29 октября будет представлена новая система управления данными от компании NI

Новости

 На выставке в Москве 27-29 октября будет представлена новая система управления данными от компании NI 28.08.2015
Одноклассники Facebook LJ Twitter В Контакте

Российское представительство компании National Instruments, мирового лидера по разработке и выпуску автоматизированных универсальных встраиваемых измерительных систем, представит в Москве, в период 27- 29 октября 2015 года на международной выставке  испытательного и контрольно-измерительного оборудования  "Testing & Control  2015"  новую многоканальную систему сбора. контроля и управления аналоговми измерительными данными   - NI CompactDAQ.

Используемые в конструкции системы сбора и управления данными NI CompactDAQ новый тип 8-ми  или  4-х слотовое шасси и большой ассортимент модулей ввода вывода С-серии позволяет  выстраивать многоканальные автоматизированные системы сбора, контроля и управления измерительными данными от аналоговых датчиков, предназначенные для работы в тяжёлых условиях  промышленной эксплуатации. 

Компактные размеры 4-х и 8-ми слотовых шасси семейства NI  CompactDAQ,  построенные на базе  двухъядерных процессоров Intel Atom, позволяют создавать высокоточные измерительные системы  для автоматизации управления технологическими процессами на производстве или автоматизировать сбор и обработку большого потока данных в научных исследованиях. 

Работа системы сбора и управления  данными поддерживается операционными системами Windows Embedded 7 или NI Linux Real-Time.  CompactDAQ контроллеры поддерживают использование как традиционных функций операционной системы, так и использование для разработки программного обеспечения среды разработки LabVIEW, так что пользователи имеют возможность легко перенести код LabVIEW из программ для имеющихся контрольно-измерительных систем во вновь разрабатывающийся проект.

В автоматизированных системах сбора и управления данными NI  CompactDAQ  могут быть использованы  любые из более чем 60-ти  специфических модулей ввода-вывода, обеспечивающих решение задач, стоящих перед разработчиком. Благодаря объединению вычислителя, каскадов обработки сигналов и каскадов согласования ввода/вывода в единое целое, может быть снижена стоимость контрольно-измерительной системы, значительно упрощается её структура и одновременно повышается точность измерений. 

В данной высокоинтегрированной контрольно-измерительной системе  NI  CompactDAQ, по сравнению с традиционными устройствами автоматизации процессов измерения и контроля данных, уменьшено количество компонентов, количество соединителей и кабельных соединений, что обычно сопряжено с уменьшением шумов и стоимости контрольно-измерительного комплекса..

Основные преимущества  использования контроллеров для автоматизированных систем измерения NI  CompactDAQ:
  • двухъядерный процессор Intel Atom – упрощенная архитектура,
  •  мобильность контрольно-измерительной системы, 
  • возможность подключения съёмного накопителя формата SD,
  •  порт интерфейса CAN/LIN,
  •  возможность выбора 4-х или 8-vи слотового шасси для конструкции управляющего контроллера – комбинируйте различные модули ввода/вывода - аналогового ввода, аналогового вывода, цифрового ввода/вывода , 
  • прочный, защищенный корпус – измерения в условиях высокой вибрации, а также в температурном диапазоне от -40 °C до 70 °C.
Выставка "Testing & Control  2015"  будет проводиться на территории МВЦ "Крокус-ЭКСПО", с тенд компании National Instruments  расположится в Павильон №1, в Зале №2, № стенда  D309.   

Кроме системы сбора и управления данными  NI  CompactDAQ на стенде будут представлены и друге новинки измерительного оборудования  от ведущего мирового производителя - компании National Instruments.

Посетители смогут увидеть все представленные изделия в действии, провести цикл испытаний на собственных примерах. задать интересующие вопросы и получить всеообъемлющие консультации технических экспертов компании.



Количество показов: 275
Предоставлено:  National Instruments

Возврат к списку

ON-LINE версия