Закрыть
Регистрация
Закрыть
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Регистрация

Измерение шумов устройств на полупроводниковых пластинах на анализаторе Keysight E4727A

Новости

Измерение шумов устройств на полупроводниковых пластинах на анализаторе Keysight E4727A 21.07.2016
Одноклассники Facebook LJ Twitter В Контакте

<div>
  <br />
</div>
Компания Keysight Technologies объявила о выпуске новой версии своего высокопроизводительного низкочастотного анализатора шума  Keysight E4727A (A-LFNA,  Advanced Low-Frequency Noise Analyzer  ), который предназначен для выполнения быстрых, точных и воспроизводимых измерений низкочастотных шумов. 
<div>
  <br />
</div>

<div>Эта версия оснащена новым интерфейсом пользователя и непосредственно интегрируется с ПО WaferPro Express компании Keysight Technologies –  с программной платформой, выполняющей автоматические измерения на полупроводниковых пластинах.</div>

<div>
  <br />
</div>
Ключевые нововведения: 
<div>
  <ul>
    <li> Интеграция аппаратных возможностей расширенного низкочастотного анализатора шума Keysight E4727A с обновленным ПО WaferPro Express позволяет создать готовое решение для измерения параметров НЧ шумов, а также параметров постоянного тока, емкости и высокочастотных S-параметров </li>
  
    <li>Программный модуль измеряет значения параметров:  по постоянному току, шум 1/f, случайный телеграфный шум и анализирует данные проводимости</li>
  
    <li>Тесное сотрудничество компаний Keysight и Cascade Microtech позволило создать полностью интегрированное решение для измерений на полупроводниковых пластинах с автоматическим управлением всеми основными системами зондирования полупроводниковых пластин</li>
   </ul>
</div>

<div> </div>

<div>
  <div> В рамках этой большой интегрированной среды данная платформа предоставляет инженерам исчерпывающее представление о природе возникновения НЧ шумов в их устройствах и схемах, превосходя возможности измерения шумов в автономной системе. </div>

  <div>
    <br />
   </div>

  <div>Сегодня инженерам, занятым измерением параметров полупроводниковых приборов, нередко нужна измерительная система для измерения шумов, которая обладала бы гибкостью применения и возможностями к расширению измерительных возможностей. В частности, весьма  востребована система, объединяющая расширенные измерения и анализ низкочастотного шума с измерениями на полупроводниковых пластинах в одной мощной платформе, способной управлять тестированием всех характеристик на уровне полупроводниковых пластин.</div>

  <div>
    <br />
   </div>

  <div> Непосредственная интеграция  анализатора    Keysight E4727A  с ПО WaferPro Express даёт именно такую функциональность. Это интегрированное решение упрощает измерение параметров НЧ шума компонентов, отдельных устройств и интегральных схем, как в корпусах, так и на полупроводниковых пластинах. </div>

  <div>
    <br />
   </div>

  <div>Как и раньше, с помощью ПО WaferPro Express инженеры могут программировать и выполнять высокоскоростные измерения по постоянному току, измерения ёмкости и измерения высокочастотных S-параметров, автоматизируя при этом управление зондовой станцией. </div>

  <div>
    <br />
   </div>

  <div>Теперь, благодаря модулю для измерения шумов,  они могут добавить в набор тестов измерения и анализ параметров НЧ шума. Встроенные в анализатор <noindex><a href="http://www.keysight.com/en/pd-2389560-pn-E4727A/advanced-low-frequency-noise-analyzer?cc=US&;lc=eng" target="_blank" rel="nofollow" >Keysight E4727A</a></noindex> процедуры измеряют значения параметров  по постоянному току и шум. </div>

  <div>
    <br />
   </div>

  <div>Например, чтобы измерить шум КМОП транзистора с N каналом, анализатор  Keysight E4727A  автоматически выбирает импедансы источника сигнала и нагрузки, которые наилучшим образом выявляют собственный шум устройства. </div>

  <div>
    <br />
   </div>

  <div>Инженер может принять эти рекомендованные настройки или внести изменения – на этом инициализация измерения заканчивается. Затем  анализатор Keysight E4727A  измеряет спектральную плотность мощности шума (шум 1/f) и уровень шума во временной области (RTN).</div>

  <div>
    <br />
   </div>

  <div> Результирующие данные отображаются в виде нескольких графиков. Различные вкладки упрощают выполнение типовых операций, таких как оценка рабочей точки устройства по постоянному току и измерение наклона кривой спектральной плотности мощности. </div>

  <div>
    <br />
   </div>

  <div>Кроме того, данные по параметрам шума можно анализировать и представлять в моделях устройств с помощью средств моделирования, таких как Model Builder Program (MBP) и IC-CAP  от компании Keysight Technologies.</div>

  <div>
    <br />
   </div>

  <div> Разработчики схем могут использовать эти модели для точного проектирования малошумящих ВЧ схем и аналоговых цепей. </div>

  <div>
    <br />
   </div>

  <div>«Заказчики, занимающиеся тестированием параметров и моделированием полупроводниковых приборов, предъявляют многообразные требования к измерениям, от оценки надёжности устройств на основе вещества - GaN (нитрида галлия) и моделирования устройств КМОП до тестирования датчиков магнитного поля, – сказал Тодд Катлер (Todd Cutler), вице-президент и генеральный менеджер отдела ПО для проектирования и измерений компании Keysight.</div>

  <div>
    <br />
   </div>

  <div> – Благодаря новому интерфейсу пользователя в ПО  анализатора   Keysight E4727A, специалисты  получают уникальную возможность измерять и моделировать шум устройств на полупроводниковых пластинах, и одновременно могут пользоваться полным и гибким набором измерительных функций – от измерений по постоянному току до измерения ёмкости и S-параметров в СВЧ диапазоне». </div>

  <div>
    <br />
   </div>

  <div>Низкочастотный анализатор шума  Keysight E4727A  обладает лучшей в отрасли чувствительностью к шумам ( измеряемый уровень шума в -183 дБВ2/Гц),  что позволяет инженерам, занятым моделированием и измерением параметров цепей, быстро и точно измерять характеристики устройств на высоких напряжениях (до 200 В) и на сверхнизких частотах (от 0,03 Гц). </div>

  <div>
    <br />
   </div>

  <div>Благодаря таким возможностям  анализатор  Keysight E4727A идеально подходит для разработки рабочих библиотек различных шумов  для технологических процессов на заводах, выпускающих полупроводниковые приборы, и для статистического управления процессами во время изготовления устройств.</div>

  <div>
    <br />
   </div>

  <div> Производители операционных усилителей и линейных стабилизаторов напряжения тоже могут использовать  анализатор Keysight E4727A  для измерения параметров выходного  НЧ шума с целью включения их в технические характеристики. </div>

  <div>
    <br />
   </div>

  <div>Более подробную информацию можно найти на сайте http://www.keysight.com/find/eesof-a-lfna. </div>

  <div>
    <br />
   </div>

  <div> Демонстрационное видео об анализаторе НЧ шума Keysight E4727A размещено на канале YouTube по ссылке <b>https://youtu.be/dE__pYPFX2U.</b></div>
</div>

<div>
  <br />
</div>
Загрузить бесплатные пробные версии ПО можно по ссылке http://www.keysight.com/find/free_trials.

Количество показов: 183
Предоставлено:  Keysight Tecnologies

Возврат к списку