Закрыть
Регистрация
Закрыть
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Регистрация

Новинки от keysight Technologies продемонстрированы на микроволновой неделе в Париже

Новости

Новинки от Keysight Technologies продемонстрированы на микроволновой неделе в Париже 21.09.2015
Одноклассники Facebook LJ Twitter В Контакте


На завершившихся 11 сентября  2015 года мероприятиях (выставка и научные конференции) Европейской микроволновой недели в Париже, специалисты  компании Keysight  Technologies провели ряд семинаров и продемонстрировала широкий диапазон аппаратных и программных решений для проектирования, тестирования и измерения параметров устройств.

Участникам семинаров и гостям стенда компании   Keysight  Technologies   были продемонстрированы новейшие разработки и перспективные образцы изделий с выдающимися техническими характеристиками.  Продукты компании Keysight  Technologies - это именно те инструменты, которые нужны современным инженерам для тщательного проектирования, тестирования и измерения параметров компонентов, применяемых в радиолокационных системах, антеннах и беспроводных устройствах следующего поколения.

 На выставке были представлены следующие решения :

 Решения для проектирования ВЧ и СВЧ схем:
  •  САПР ADS Keysight EEsof EDA – лучшее в отрасли программное обеспечение для автоматизированного проектирования электронных устройств для ВЧ и СВЧ приложений. Специалисты Keysight продемонстрировали его применение для разработки ВЧ ИС и СВЧ устройств, включая совместную работу САПР ADS с ПО Virtuoso, а также применение электромагнитного моделирования в САПР Keysight EMPro для проектирования ВЧ ИС, модулей и их корпусов. 
 Контрольно-измерительные решения для миллиметрового и терагерцового диапазонов:
  •  Генерация и анализ разнообразных широкополосных сигналов миллиметрового диапазона, таких как 5G, 802.11ad, и транспортные протоколы, включая цифровую модуляцию и ее анализ.
  • Решения для тестирования устройств и измерения диэлектрической проницаемости и тангенса угла потерь диэлектрических материалов в миллиметровом и терагерцовом диапазоне. Это особенно важно для радиопоглощающих материалов, диэлектрических подложек, материалов для микроволновых печей и биотоплива.
 Решения для измерения характеристик материалов и компонентов: 
  • Измерение электрической ёмкости в наномасштабе с помощью уникального режима Сканирующего микроволнового микроскопа Keysight (SMM), который объединяет всеобъемлющие электрические измерения векторного анализатора цепей с превосходным пространственным разрешением атомно-силового микроскопа (AFM). 
  • Полное измерение линейных и нелинейных параметров с помощью Keysight PNA-X – самой насыщенной и гибкой измерительной платформы, предназначенной для работы с современными активными устройствами, такими как усилители, смесители и преобразователи частоты.
  • Модульные решения в формате PXI для производственных и исследовательских лабораторий, включая многофункциональные и многопортовые масштабируемые измерительные стенды, в состав которых входит полный двухпортовый векторный анализатор цепей Keysight в формате PXI, занимающий всего один слот. Модульные решения Keysight опираются на метрологические принципы, заимствованные у настольных приборов и позволяющие выполнять быстрые и точные измерения, одновременно сокращая стоимость тестирования.
 Приложения для РЛС и РЭБ:
  • Моделирование среды РЭБ (радиоэлектронной борьбы) с несколькими излучателями для получения полной информации о параметрах систем РЭБ с помощью генератора Keysight UXG с ПО Signal Studio для генерации сценариев с несколькими излучателями. Анализ и измерение импульсных характеристик с помощью ПО Keysight 89600 VSA.
  • Контрольно-измерительные системы следующего поколения для РЛС и систем РЭБ, которые должны работать в среде с многочисленными маскирующимися и динамически изменяющимися источниками излучения.  Контрольно-измерительные решения Keysight предлагают модульные приборы, отвечающие требованиям многоканальности и перестраиваемой многофункциональности широкополосных РЛС следующего поколения. 
  •  Генерация и анализ широкополосных многотональных и модулированных сигналов частотой до 2 ГГц с помощью решения для широкополосного анализа сигналов Keysight Z9070B. 
  • Измерение ВЧ и СВЧ сигналов в полевых условиях с помощью анализатора Keysight FieldFox для работы с РЛС, спутниковым оборудованием и антенно-фидерными системами.

На проведенных практических семинарах специалисты компании Keysight Technologies продемонстрировали приемы работы с новыми образцами приборов  для  измерений в миллиметровом и терагерцовом диапазонах,  при измерениях значений  параметров материалов и компонентов,  по тестированию РЛС и систем РЭБ,  а также  привели наглядные  примеры использования преимущества новых систем программного обеспечения  для проектированию ВЧ и СВЧ схем.

Количество показов: 276
Предоставлено:  Keysight Tecnologies

Возврат к списку

ON-LINE версия