Закрыть
Регистрация
Закрыть
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Регистрация

Новая система прмышленного тестирования беспроводных устройств NI WTS

Новости

Новая система прмышленного тестирования беспроводных устройств  NI WTS 14.09.2015
Одноклассники Facebook LJ Twitter В Контакте

Новая система тестирования беспроводных устройств Wireless Test System на основе технологии  встраиваемых систем PXI оптимизирована для увеличения производительности при измерениях на большом числе проверяемых объектов.  Wireless Test System (WTS) - решение, которое резко снижает стоимость единичного акта производственного тестирования при проведении измерений на больших количественных объемах проверяемых устройств .  

В современных условиях наблюдается уверенная тенденция возрастания общей  сложности процесса тестирования готовых изделий. тем не менее, компании-производители  могут уверенно сократить расходы на испытания и приумножить пропускную способность службы выходного контроля на производственной площадке.

Для этого разрабатываются и внедряются  системы контроля, оптимизированные  для проведения скоростных измерений и параллельного тестирования. 

 "Современный мегатренды, такие как Интернет вещей (IoT), будут подталкивать производителей к выпуску  все большего числа устройств,  включающих в свою конструкцию  СВЧ электронику и функциональные датчики, тестировать которые традиционными методами  было бы  дорого. Но стоимость выходного тестирования не должна ограничивать инновации или экономическую жизнеспособность продукта", - говорит Ольга Шапиро, менеджер по системам контроля  и измерительным приборам компании Frost & Sullivan. 

"Чтобы оставаться прибыльными в будущем, компании-производители должны будут пересмотреть свой подход к беспроводным тестам и принять новые парадигмы. Поскольку  система WTS построена на проверенной в промышленности платформе PXI и опирается на опыт компании NI, мы ожидаем, что она окажет существенное влияние на рентабельность IoT." 

Система  тестирования WTS сочетает в себе последние достижения в оборудовании форм-фактора PXI и предлагает единую платформу для мультистандартного,  многопортового одновременного тестирования. При использовании с гибким программным обеспечением, таким как TestStand Wireless Test Module, производители могут существенно повысить эффективность использования приборов при тестировании нескольких устройств параллельно. 

Система WTS легко интегрируется в производственную линию с готовыми к запуску тестовыми последовательностями для устройств, использующих чипсеты от таких поставщиков, как Qualcomm и Broadcom, а также интегрированным управлением тестируемыми устройствами и автоматизацией. Благодаря этим функциям, заказчики видят значительное повышение эффективности своего тестирующего оборудования и дальнейшее сокращение стоимости тестов. 

 "Мы протестировали несколько беспроводных технологий, начиная от Bluetooth и до Wi-Fi, GPS и сотовых сетей все с тем же оборудованием, используя систему NI Wireless Test System," сказал Маркус Краусс, HARMAN/Becker Automotive Systems GmbH. - 

"Система WTS и инженерно-технический опыт компании NOFFZ помогли нам значительно сократить время тестирования и время ввода наших систем тестирования в эксплуатацию." 

 WTS - это новейшая система от NI, построенная на оборудовании форм-фактора PXI и программном обеспечении LabVIEW и TestStand (см. Semiconductor Test System, выпущенную в 2014 году). 

С поддержкой беспроводных стандартов от LTE Advanced до 802.11ac и Bluetooth Low Energy,  система WTS создана для испытаний точек доступа WLAN, мобильных телефонов, информационно-развлекательных систем и других мульти-стандартных устройств, которые включают сотовую связь, беспроводные сетевые подключения и навигационные сигналы.

 Технологии программно-определяемого векторного трансивера NI VST в составе WTS обеспечивает превосходные ВЧ характеристики и платформу, которую можно масштабировать в соответствии с развивающимися требованиями испытаний. 

 Для получения более подробной информации о новой системе Wireless Test System, посетите страницу  ni.com/wts.

Количество показов: 303
Предоставлено:  National Instruments

Возврат к списку

ON-LINE версия