Новая система тестирования беспроводных устройств на основе технологии встраиваемых систем PXI оптимизирована для увеличения производительности при измерениях на большом числе проверяемых объектов. Wireless Test System (WTS) - решение, которое резко снижает стоимость единичного акта производственного тестирования при проведении измерений на больших количественных объемах проверяемых устройств .
В современных условиях наблюдается уверенная тенденция возрастания общей сложности процесса тестирования готовых изделий. тем не менее, компании-производители могут уверенно сократить расходы на испытания и приумножить пропускную способность службы выходного контроля на производственной площадке.
Для этого разрабатываются и внедряются системы контроля, оптимизированные для проведения скоростных измерений и параллельного тестирования.
"Современный мегатренды, такие как Интернет вещей (IoT), будут подталкивать производителей к выпуску все большего числа устройств, включающих в свою конструкцию СВЧ электронику и функциональные датчики, тестировать которые традиционными методами было бы дорого. Но стоимость выходного тестирования не должна ограничивать инновации или экономическую жизнеспособность продукта", - говорит Ольга Шапиро, менеджер по системам контроля и измерительным приборам компании Frost & Sullivan.
"Чтобы оставаться прибыльными в будущем, компании-производители должны будут пересмотреть свой подход к беспроводным тестам и принять новые парадигмы. Поскольку система WTS построена на проверенной в промышленности платформе PXI и опирается на опыт компании NI, мы ожидаем, что она окажет существенное влияние на рентабельность IoT."
Система тестирования WTS сочетает в себе последние достижения в оборудовании форм-фактора PXI и предлагает единую платформу для мультистандартного, многопортового одновременного тестирования. При использовании с гибким программным обеспечением, таким как TestStand Wireless Test Module, производители могут существенно повысить эффективность использования приборов при тестировании нескольких устройств параллельно.
Система WTS легко интегрируется в производственную линию с готовыми к запуску тестовыми последовательностями для устройств, использующих чипсеты от таких поставщиков, как Qualcomm и Broadcom, а также интегрированным управлением тестируемыми устройствами и автоматизацией. Благодаря этим функциям, заказчики видят значительное повышение эффективности своего тестирующего оборудования и дальнейшее сокращение стоимости тестов.
"Мы протестировали несколько беспроводных технологий, начиная от Bluetooth и до Wi-Fi, GPS и сотовых сетей все с тем же оборудованием, используя систему NI Wireless Test System," сказал Маркус Краусс, HARMAN/Becker Automotive Systems GmbH. -
"Система WTS и инженерно-технический опыт компании NOFFZ помогли нам значительно сократить время тестирования и время ввода наших систем тестирования в эксплуатацию."
WTS - это новейшая система от NI, построенная на оборудовании форм-фактора PXI и программном обеспечении LabVIEW и TestStand (см. Semiconductor Test System, выпущенную в 2014 году).
С поддержкой беспроводных стандартов от LTE Advanced до 802.11ac и Bluetooth Low Energy, система WTS создана для испытаний точек доступа WLAN, мобильных телефонов, информационно-развлекательных систем и других мульти-стандартных устройств, которые включают сотовую связь, беспроводные сетевые подключения и навигационные сигналы.
Технологии программно-определяемого векторного трансивера NI VST в составе WTS обеспечивает превосходные ВЧ характеристики и платформу, которую можно масштабировать в соответствии с развивающимися требованиями испытаний.
Для получения более подробной информации о новой системе Wireless Test System, посетите страницу ni.com/wts.
