Специалистами компании Keysight Technologies выпущено специальное программное обеспечение "WaferPro Express 2015" – уникальная программная платформа для проведения автоматизированных измерений значений параметров полупроводниковых приборов на уровне пластин.
Эффективно управляя всеми компонентами измерительной системы (всей совокупностью измерительных приборов и пробниками одновременно), программная платформа "WaferPro Express 2015" упрощает работу в сложных схемах тестирования и предлагает пользователям единую платформу для эффективных автоматизированных измерений и обработки данных.
Массовые измерения на уровне полупроводниковых пластин уже не являются исключительной прерогативой сотрудников компаний- разработчиковили производителей полупроводниковых приборов. Сегодня многие исследовательские группы выполняют массовые измерения для таких задач, как моделирование устройств, мониторинг процессов, исследования надёжности, измерения параметров компонентов и их зависимости от температуры, выполняемые для все большого числа производителей самого различного оборудования, в которм встречаются те или иные электронные компоненты управления.
В результате автоматические зондовые станции становятся обычными принадлежностями сотрудников исследовательских лабораторий многих компаний. Главной революционной особенностью новой программной платформы "WaferPro Express 2015" от Keysight Technologies является его тесная интеграция с ПО управления зондовой станцией Velox 2.0 компании Cascade Microtech.
Программа "WaferPro Express -2015" и станция Velox 2.0 объединяются через Cascade Microtech WaferSync – совместно разработанный двунаправленный канал связи.
Этот канал позволяет полностью синхронизировать карту полупроводниковой пластины и обеспечивает безошибочный обмен информацией между компонентами программы, включая информацию о выравнивании пластины, участках и кристаллах. Такой канал связи между программной средой "WaferPro Express-2015" и зондовой станциейVelox 2.0, в сочетании с другими усовершенствованиями, позволяет инженерам быстро настраивать измерительные системы.
Для дальнейшего повышения эффективности измерений на высоких частотах программа "WaferPro Express -2015" периодически контролирует стабильность ВЧ калибровки. Это минимизирует время, затрачиваемое на сбор данных о погрешностях.
«Своим появлением новое ПО "WaferPro Express - 2015" от Keysight Technologies во многом обязано нашему сотрудничеству со специалистами Cascade Microtech, что является важной вехой нашей программы по предоставлению измерительных решений на уровне полупроводниковых пластин для наших заказчиков, – указал Чарльз Плотт (Charles Plott), менеджер по маркетингу подразделения Keysight EEsof EDA.
– Программа управления измерительными решениями на уровнях полупроводниковых пластин предлагает заказчикам гарантированное конфигурирование, настройку и поддержку системы. ПО "WaferPro Express 2015" является сердцем этой программы, объединяя все системные измерительные компоненты и предоставляя заказчикам гибкость управления, необходимую для быстрого запуска измерений».
Типовое измерительное решение уровня полупроводниковых пластин (WMS) для измерений на высоких частотах и на постоянном токе включает следующее оборудование: анализатор цепей Keysight PNA или Keysight PNA-X и анализатор параметров полупроводниковых устройств Keysight B1500A, объединённый с зондовой станцией компании Cascade Microtech, специальное ПО калибровки WinCal XE и подложками с эталонным импедансом для калибровки.
Конфигурации WMS заранее проверены и оптимизированы для точного и воспроизводимого измерения устройств и компонентов. Проверка вновь устанавливаемых систем выполняется с помощью новой испытательной подложки Keysight (KVS).
Для каждой KVS в заводских условиях полностью измеряются все параметры, а в комплект их поставки входят стандартные устройства, которые можно зондировать с помощью пробников G-S-G после ВЧ калибровки.
Программа "WaferPro Express - 2015 измеряет KVS во время начальной проверки системы, а после сравнения измеренных и заводских данных происходит подтверждение корректной работы системы.
Другие новые hf,jxbt возможности ПО "WaferPro Express - 2015" включают поддержку измерений коэффициента шума и возможность импорта испытательных процедур, разработанных в ПО моделирования и измерений Keysight IC-CAP.
Новая функция измерения коэффициента шума дополняет имеющиеся функции измерения компрессии усиления, двухтонального измерения интермодуляционных искажений и измерения S-параметров, поддерживаемые в настоящее время последним инструментальным драйвером для анализатора Keysight PNA-X.
О программном обеспечении WaferPro Express
Специальное ПО "WaferPro Express -2015" снижает сложность проведения измерений, предлагая серийно выпускаемую платформу, которая управляет планом тестирования и позволяет просто сохранять, отображать и контролировать данные.
Имеются десятки готовых драйверов, которые позволяют пользователю быстро выполнять стандартные измерения. Дальнейший уровень адаптации предлагается средой программирования Python.
Обычно сценарии Python используются для анализа результатов измерения, расчёта и сохранения основных показателей, настройки мониторинга данных и замены или дополнения встроенных драйверов специальными алгоритмами.
Дополнительная информация о специальном ПО "WaferPro Expres - 2015" на английском языке приведена на странице www.keysight.com/find/eesof-waferpro-express.
Видеоролик, демонстрирующий работу ПО "Waferpro Express - 2015" с приборами Keysight и оборудованием Cascade Microtech в контексте WMS, можно посмотреть по ссылке www.youtube.com/watch?v=agELxTCbR90.
Изображения скриншотов работы специального ПО "WaferPro Express 2015" ver.01 представлены yна странице www.keysight.com/find/waferpro-express-2015.01_images.
