Закрыть
Регистрация
Закрыть
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Регистрация

Новое программа для автоматизированных измерений параметров полупроводниковых приборов

Новости

Новое программа для автоматизированных  измерений параметров полупроводниковых приборов 28.04.2015
Одноклассники Facebook LJ Twitter В Контакте

Специалистами компании Keysight Technologies выпущено специальное программное обеспечение  "WaferPro Express 2015" –  уникальная программная платформа для  проведения  автоматизированных  измерений  значений параметров полупроводниковых приборов на уровне пластин. 

Эффективно управляя всеми компонентами измерительной системы (всей совокупностью измерительных приборов и пробниками  одновременно),  программная платформа "WaferPro Express 2015" упрощает работу в сложных схемах тестирования и предлагает пользователям единую платформу для эффективных автоматизированных измерений и обработки данных.

 Массовые измерения на уровне полупроводниковых пластин уже не являются исключительной прерогативой сотрудников компаний- разработчиковили производителей полупроводниковых приборов. Сегодня многие исследовательские группы выполняют массовые измерения для таких задач, как моделирование устройств,  мониторинг процессов,  исследования надёжности,  измерения параметров компонентов и их зависимости от температуры, выполняемые для все большого числа производителей самого различного оборудования, в которм встречаются те или иные электронные компоненты управления.

 В результате автоматические зондовые станции становятся обычными принадлежностями сотрудников исследовательских лабораторий многих компаний. Главной революционной особенностью новой программной платформы "WaferPro Express 2015" от  Keysight Technologies является его тесная интеграция с ПО управления зондовой станцией Velox 2.0 компании Cascade Microtech. 

Программа "WaferPro Express -2015" и станция Velox 2.0 объединяются через Cascade Microtech WaferSync – совместно разработанный двунаправленный канал связи. 

Этот канал позволяет полностью синхронизировать карту полупроводниковой пластины и обеспечивает безошибочный обмен информацией между компонентами программы, включая информацию о выравнивании пластины, участках и кристаллах. Такой  канал связи между программной средой "WaferPro Express-2015" и  зондовой станциейVelox 2.0,  в сочетании с другими усовершенствованиями,  позволяет инженерам быстро настраивать измерительные системы. 

Для дальнейшего повышения эффективности измерений на высоких частотах программа "WaferPro Express -2015" периодически контролирует стабильность ВЧ калибровки. Это минимизирует время, затрачиваемое на сбор данных о погрешностях.

 «Своим появлением новое ПО "WaferPro Express - 2015" от  Keysight Technologies во многом обязано нашему сотрудничеству со специалистами  Cascade Microtech, что является важной вехой нашей программы по предоставлению измерительных решений на уровне полупроводниковых пластин для наших заказчиков, – указал Чарльз Плотт (Charles Plott), менеджер по маркетингу подразделения Keysight EEsof EDA.

 – Программа управления измерительными решениями на уровнях полупроводниковых пластин  предлагает заказчикам гарантированное конфигурирование, настройку и поддержку системы.  ПО  "WaferPro Express 2015"  является сердцем этой программы, объединяя все системные измерительные компоненты и предоставляя заказчикам гибкость управления, необходимую для быстрого запуска измерений». 

Типовое измерительное решение уровня полупроводниковых пластин (WMS) для измерений на высоких частотах и на постоянном токе включает следующее оборудование: анализатор цепей Keysight PNA или Keysight PNA-X и анализатор параметров полупроводниковых устройств Keysight B1500A,  объединённый с зондовой станцией компании Cascade Microtech,  специальное ПО калибровки WinCal XE и подложками с эталонным импедансом для калибровки.

 Конфигурации WMS заранее проверены и оптимизированы для точного и воспроизводимого измерения устройств и компонентов. Проверка вновь устанавливаемых систем выполняется с помощью новой испытательной подложки Keysight (KVS). 

Для каждой KVS в заводских условиях полностью измеряются все параметры, а в комплект их поставки входят стандартные устройства, которые можно зондировать с помощью пробников G-S-G после ВЧ калибровки. 

Программа "WaferPro Express - 2015 измеряет KVS во время начальной проверки системы, а после сравнения измеренных и заводских данных происходит подтверждение корректной работы системы. 

Другие новые hf,jxbt возможности ПО "WaferPro Express - 2015" включают поддержку измерений коэффициента шума и возможность импорта испытательных процедур, разработанных в ПО моделирования и измерений Keysight IC-CAP. 

Новая функция измерения коэффициента шума дополняет имеющиеся функции измерения компрессии усиления, двухтонального измерения интермодуляционных искажений и измерения S-параметров, поддерживаемые в настоящее время последним инструментальным драйвером для анализатора Keysight PNA-X. 

О программном обеспечении WaferPro Express 

Специальное ПО "WaferPro Express -2015" снижает сложность проведения измерений, предлагая серийно выпускаемую платформу,  которая управляет планом тестирования и позволяет просто сохранять, отображать и контролировать данные.

 Имеются десятки готовых драйверов, которые позволяют пользователю быстро выполнять стандартные измерения. Дальнейший уровень адаптации предлагается средой программирования Python. 

Обычно сценарии Python используются для анализа результатов измерения, расчёта и сохранения основных показателей, настройки мониторинга данных и замены или дополнения встроенных драйверов специальными алгоритмами. 

Загрузить новую версию ПО "WaferPro Express 2015.01"   можно будет в мае 2015 года по приводимой ссылке 


Дополнительная информация о  специальном ПО "WaferPro Expres - 2015" на английском языке  приведена на странице www.keysight.com/find/eesof-waferpro-express

Видеоролик, демонстрирующий работу  ПО "Waferpro Express - 2015" с приборами Keysight и оборудованием Cascade Microtech в контексте WMS, можно посмотреть по ссылке www.youtube.com/watch?v=agELxTCbR90

Изображения скриншотов работы специального ПО "WaferPro Express 2015" ver.01 представлены yна странице  www.keysight.com/find/waferpro-express-2015.01_images.

Количество показов: 316
Предоставлено:  Keysight Tecnologies

Возврат к списку

ON-LINE версия