Закрыть
Регистрация
Закрыть
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Регистрация

В России создан лучший в мире лазерный микроскоп МИМ-340

Новости

В России создан лучший в мире лазерный микроскоп МИМ-340 27.09.2016
Одноклассники Facebook LJ Twitter В Контакте

В ходе научной конференции  Биотехмед 2016 в Геленджике, 26 сентября 2016 года участникам был представлен уникальный прибор -  лазерный измерительно-информационный комплекс МИМ-340, созданный  при поддержке Министерства промышленности и торговли РФ, специалистами  холдинга «Швабе» (входит в Госкорпорацию Ростех), на Уральском оптико-механическом  заводе (г.Екатеринбург).


Микроскоп МИМ-340, признанный одним из лучших в мире по разрешающей способности,  оснащён сверхплоским дпинноходовым координатным столом нанометрового разрешения и обладает широким спектром применения, от медицины до точного машиностроения, оптической промышленности, материаловедения и авиационно-космической отрасли. 

В приборе  МИМ-340 применена технология модуляционной интерференционной микроскопии. Впервые данное устройство  было представлено  на выставке в немецком гДюссельдорфе в 2014 г.  За разработку и  освоение промышленного  производства  прибора МИМ-340 авторскому коллективу проекта вручена премия Правительства России. 

Микроскоп  МИМ-340 превосходит все мировые аналоги по техническим характеристикам и номинирован в списке десяти лучших научных работ в Европе.  Ключевая особенность  микроскопа МИМ-340 - оригинальный алгоритм вычисления фазы отраженного от объекта волнового фронта, сочетающий в себе быстродействие шаговых методов и сверхразрешение фазометрических методов.

 Важнейшие преимущества прибора  МИМ-340 - получение полного кадра размером 1280x1024 пикселя всего за 0,3 секунды, бесконтактность измерений, простота работы и метрологическая достоверность измерений, визуализация оптически анизотропной области микроструктуры размером менее 100 нм, регистрация нанодинамики и запись «нанокино». 

Принцип действия микроскопа основан на совместном использовании оригинальных технологий лазерной микроскопии МИМ и аэромагнитных направляющих. Такое сочетание позволяет исследовать поверхность крупногабаритных (до 300x300 мм) объектов без потери координаты и фокуса.

Количество показов: 100
Предоставлено:  Портал КИПиА.инфо

Возврат к списку

ON-LINE версия