Полуавтоматическая зондовая станция серии SEMISHARE X предназначена для наведения электрода пробоотборника через зонд или плату зонда в условиях от -60 ℃ до 300 ℃, загрузки и измерения электрического сигнала путем подключения тестового прибора, а также управления, оценки и сохранения электрического сигнала на стороне программного обеспечения и подачи сигнала на оценочная информация возвращается в струйную систему для маркировки дефектного чипа (матрицы).
Среди прочего, метод маркировки может быть установлен в соответствии с требованиями заказчика.
После завершения испытания одной стружки (матрицы) механическая платформа патрона перемещается к следующей стружке (матрице) для тестирования с помощью системы программного управления, и циклическое тестирование выполняется по очереди.
ПРЕИМУЩЕСТВА
Рабочая скорость может достигать 70 мм/с, а эффективность тестирования повышается более чем на 40%
широкий диапазон испытательных температур от -60℃ до 300℃
Усовершенствованная оптическая система отображения с многократным увеличением, высокоточные измерения и динамический мониторинг, более удобное управление наведением иглы
7* 24 часа всепогодного обнаружения на чипе
Независимые исследования и разработка интегрированной системы программного обеспечения, повышающая совместимость
