LeCroy WavePulser 40iX - это идеальный инструмент для разработчиков и тест-инженеров высокоскоростного оборудования, который предназначен для анализа и определения характеристик коннекторов и кабелей, используемых для передачи данных по высокоскоростным последовательным протоколам, таким как: PCI Express, HDMI, USB, SAS, SATA, Fibre Channel, InfiniBand, Gigabit Ethernet и Автомобильный Ethernet.
До появления анализатора LeCroy WavePulser 40iX тестирование и проверка работоспособности межсоединений были разделены на две области: временная и частотная.
Тестирование во временной области (time-domain testing). Использование TDR- (рефлектометрия) технологии для создания профиля импеданса путем подачи зондирующих импульсов. TDR-измерения характеризуются высоким пространственным разрешением, позволяющим точно определять местоположение повреждения вдоль всего тракта, по изменениям в профиле импеданса.
Тестирование в частотной области (frequency-domain testing, VNA - векторный анализатор цепей). Тестирование в частотной области, характеризуется большим динамическим диапазоном, и применяется для измерения S-параметров радиочастотных (RF) компонентов.
Векторные анализаторы цепей адаптированы для анализа межсоединений высокоскоростных последовательных устройств, но при этом возрастает погрешность экстраполяции DC в процессе моделирования устройств.
Получается, что ни один из испытательных приборов, по отдельности, полностью не отвечает потребностям инженеров-разработчиков, которые испытывают и проверяют межсоединения высокоскоростных последовательных устройств.
Анализатор скоростных соединений LeCroy WavePulser 40iX сочетает в себе функциональные возможности двух приборов, векторного анализатора цепей и рефлектометра, что позволяет выполнять тестирование проектируемых устройств, как во временной, так и частотной областях, а так же предоставляет возможности глубокого анализа.
Быстрая автоматическая калибровка и готовность к работе анализатора соединений LeCroy WavePulser 40iX упрощает анализ физического пути сигнала, снимая точную характеристику кабелей последовательной передачи данных, каналов, разъемов, печатных плат, однокристальных систем.
Измеренные значения S-параметров также могут быть использованы для дополнительного анализа, включая временное стробирование, выделение межсоединений, глазковые диаграммы, оптимизированных установок выравнивания, симуляции шаблонов последовательных данных, и расширенный анализ джиттера с разбивкой на составные элементы.
Ключевые особенности анализатора скоростных соединений LeCroy WavePulser 40iX:
Измерение S-параметров, DC ~ 40 ГГц, несимметричный (single-ended) и смешанный (mixed-mode) режимы.
Профиль импеданса с разрешением < 1 мм.
Внутренняя, автоматическая OSLT калибровка.
Гибкие настройки экрана измерений.
Удаление влияния крепежей, разъемов, кабелей.
Эмуляция глазковых диаграмм с CTLE, DFE и FFE выравниванием.
Расширенные возможности по анализу джиттера.
Подключение по USB интерфейсу, компактный, легкий.