На Интернет-сайт компании «Серния Инжиниринг» появилась информация о лабораторном оборудовании от нового поставщика - компании «Drawell Scientific» (КНР) - о рентгеновских лабораторных дифрактометрах (XRD): DW-2700A, DW-27 mini и DW-3000. Указанные модели приборов различаются габаритами, мощностью и точностью измерений.
Рентгеновский дифрактометр - лабораторная измерительная установка предназначенная для измерения угловой зависимости интенсивности отражённого от вещества рентгеновского излучения для
последующего вычисления значений параметров кристаллической решетки исследуемого материала и оценки качественного фазового состава исследуемого материала с использованием информационных баз кристаллографических данных.
Рентгеновские дифрактометры - измерительные устройства, которые широко применяются для решения различных практических задач структурного анализа вещества.
Рентгеновский дифрактометр Drawell DW-2700A использует самые передовые технологии. Угловая точность и точность гониометра достигли передового мирового уровня. Источник света и
детектор могут стабильно работать в течение длительного времени, чтобы обеспечить точность определения положения пика дифракции, формы пика и измерения интенсивности.
нтгеновский дифрактометр Drawell DW-27 mini используется для коммерческого и качественного контроля. Это сочетание передовой технологии производства XRD с многофункциональностью и миниатюризацией. Данная установка может проводить качественный анализ, количественный анализ и анализ структуры кристаллов на металлообразце и неметалле, особенно в катализаторе, диоксиде титана, цементной и фармацевтической промышленности.
Рентгеновский дифрактометр Drawell DW-3000 имеет высокоточную систему гониометра и высокостабильную систему управления генератором рентгеновского излучения. Данная измерительная является является крупным аналитическим инструментом, применяемом при изучении внутренней структуры материала. Он может точно определить кристаллическую структуру, постоянную решетки, выполнить качественный или количественный анализ материала.
С помощью дополнительных аксессуаров можно определить структуру, макроскопическое напряжение или микронапряжение, определить размер кристалла и степень кристалличности и т.д. Идеальное сочетание аппаратного и программного обеспечения может удовлетворить потребности ученых и исследователей в различных областях применения.
Источник информации (sernia.ru/news/2023/rentgenovskie_difraktometry_drawell/).
